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品牌: OELABS(1)
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薄膜应力测量系统  
薄膜应力测量系统
世界顶级薄膜应力测量系统,MOS技术荣获美国专利!曾荣获2008 Innovation of the Year Awardee!
薄膜应力&晶圆弯曲(翘曲)测试系统  
薄膜应力&晶圆弯曲(翘曲)测试系统
薄膜应力&晶圆弯曲(翘曲)测试系统 Film Stress & Wafer Bow Measurement System
单腔室和多腔室薄膜沉积设备  
单腔室和多腔室薄膜沉积设备
MVSystems 公司设计,制造和提供各类单腔室和多腔室薄膜沉积设备。另外,根据用户的需求,各种PECVD,HWCVD,和PVD腔室可以单个制造,也可配备到现有的团簇型(星型)或是直线型沉积系统。MVSystems具有制造用于各类研发,中试以及小型生产设备的强大能力和丰富经验,所生产的设备已成功地使用在全世界23个国家的大学,研究院所和公司。我们公司的工程部门可最大限度地为用户着想, 以使用户们获取他们最需要的且价格合适的设备。
薄膜测厚仪(Thin Film Measurement Systems)  
薄膜测厚仪(Thin Film Measurement Systems)
大部分半透明的或具有轻微吸收性的薄膜能够被快速、可靠的测量: 氧化物、氮化物、感光耐蚀膜、聚合物、半导体(Si, aSi,polySi)、半导体化合物(AlGaAs,InGaAs,CdTe,CIGS)、硬涂层(SiC, DLC), 聚合物涂料 (Paralene, 聚甲基丙烯酸甲酯, 聚酰胺), 薄金属薄膜等。