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少子寿命测量仪 BCT-400测试硅锭  
少子寿命测量仪 BCT-400测试硅锭
少子寿命测量仪BCT-400测试硅锭BCT-400 BCT-400测量系统不需要做表面钝化就能直接测量单晶和多晶硅(锭或块)的少子寿命. 因为少子寿命作为衡量生长和缺陷含量的的最敏感的技术参数,这个工具直接获得长硅的质量参数。
备用探头 少子寿命测量仪 BCT-400测试硅锭  
备用探头 少子寿命测量仪 BCT-400测试硅锭
备用探头 少子寿命测量仪BCT-400测试硅锭BCT-400 BCT-400测量系统不需要做表面钝化就能直接测量单晶和多晶硅(锭或块)的少子寿命. 因为少子寿命作为衡量生长和缺陷含量的的最敏感的技术参数,这个工具直接获得长硅的质量参数。
红外光谱仪 Nicolet IS50  
红外光谱仪 Nicolet IS50
Thermo Scientific Nicolet iS50配有专业化的附件和集成的分析软件,能够提供一个真正一体化的材料分析平台,帮助实验室工作人员以前所未有的轻松方式来应对在分析领域所遇到的挑战。 Nicolet iS50傅立叶变换红外(FT-IR)光谱仪高度灵活的系统可从简单的FT-IR光谱仪升级为全自动多光谱系统,该系统可获取从远红外至可见光的光谱。用户可一键起用全新ATR、拉曼和近红外模块,而无需手工改变系统组件。 在您的分析实验室中,快速、方便的工作流程是必不可少的,Thermo
红外硅锭缺陷检测仪  
红外硅锭缺陷检测仪
红外硅锭缺陷检测仪:多晶硅铸锭过程中,由于原料,参杂,坩埚及温场控制等诸多原因会造成不同程度的缺陷产生,如:SIC颗粒,隐裂,空洞,微晶等。这些缺陷的存在不能制造合格的多晶硅太阳能电池片,而且对后道切片工艺危害极大。因为SIC硬度极高,会使线据断线。硅裂的存在会使硅片掉落,甚至损坏导轮。 如何在不损伤硅块的前提下检测出这些缺陷,理论上有很多方法,如X光透视,超声波检测,红外投射等都是常用的方法,但综合考虑成本,工作环境,劳动保护,工作效率和操作便捷,红外投射的方法最合适。 国内主要的大厂都有使