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CDE ResMap 四点探针 (ResMap 178)4探针测试系统(电阻率,面电阻)  
CDE ResMap 四点探针 (ResMap 178)4探针测试系统(电阻率,面电阻)
CDE ResMap–CDE CDE ResMap 四点探针 (ResMap 178) 公司生产之电阻值测试系统是以四探针的工艺,以配合各半导体成光伏生产厂家进出之生产品质监控,既超卓可靠又简易操作的设备是半导体及光伏生产厂家不可缺少的
光伏测试专用美国ResMap四点探针  
光伏测试专用美国ResMap四点探针
光伏测试专用美国ResMap四点探针针:CDE ResMap的特点如简述如下: * 高速稳定及专利自动决定范围量测与传送,THROUGHPUT高 * 数字方式及每点高达4000笔数据搜集,表现良好重复性及再现 性 * Windows 操作接口及软件操作简单 * 新制程表现佳(铜制程低电阻率1.67mΩ-cm及Implant高电阻2KΩ/□以上,皆可达成高精确度及重复性) * 体积小,占无尘室面积少 * 校正简单,且校正周期长 * 可配合客户需求,增强功能与适用性 * 300mm 机种可
Jandel通用型四探针测试仪  4探针测试系统(4 point probe measurement system)  
Jandel通用型四探针测试仪 4探针测试系统(4 point probe measurement system)
Jandel通用型四探针测试仪 4探针测试系统(4 point probe measurement system)
少子寿命测试仪 WCT-120测试硅片  
少子寿命测试仪 WCT-120测试硅片
美国Sinton WCT-120少子寿命测试仪采用了准稳定态光电导(QSSPC)测量方法和分析技术。可灵敏地反映单、多晶硅片的重金属污染及陷阱效应、表面复合效应等缺陷情况。WCT在效率大于20%的超高效太阳能电池(HIT,MWT,EWT,PREL,等等)的研发和生产过程中是一种被广泛选用的检测工具。这种QSSPC测量少子寿命的方法可以在电池生产的中间任意阶段得到一个类似光照IV曲线的开压曲线,可以结合最后的IV曲线对电池制作过程进行数据监控和参数优化等工作。
少子寿命测量仪 BCT-400测试硅锭  
少子寿命测量仪 BCT-400测试硅锭
少子寿命测量仪BCT-400测试硅锭BCT-400 BCT-400测量系统不需要做表面钝化就能直接测量单晶和多晶硅(锭或块)的少子寿命. 因为少子寿命作为衡量生长和缺陷含量的的最敏感的技术参数,这个工具直接获得长硅的质量参数。
Ushio 测试灯UXL-10S,UXL-16S  
Ushio 测试灯UXL-10S,UXL-16S
Ushio 测试灯UXL-10S,UXL-16S日本USHIO UXL-16S 氙灯 ,球形氙灯 ,产品简介:日本USHIO UXL-16S 氙灯 ,球形氙灯 该短弧氙灯主要应用在:太阳能光伏企业的日本进口NPC品牌的太阳能电池片
少子寿命测试仪闪光灯 sinton BLS-1 lifetime(设备易损配件)  
少子寿命测试仪闪光灯 sinton BLS-1 lifetime(设备易损配件)
少子寿命测试仪闪光灯泡 sinton wct-120 lifetime(设备易损配件)
PVE300太阳能电池量子效率测试仪  
PVE300太阳能电池量子效率测试仪
外量子效率External Quantum Efficiency 太阳能电池(光电材料)光谱响应测试,或称量子效率QE(Quantum Efficiency)测试,或光电转化效率IPCE (Monochromatic Incident Photon-to-Electron Conversion Efficiency) 测试等,广义来说,就是测量太阳能电池(光电材料)的光电特性在不同波长光照条件下的数值,所谓光电特性包括:光生电流、光导等。
少子寿命测量仪BLS-测试硅棒  
少子寿命测量仪BLS-测试硅棒
少子寿命测量仪BLS-I 用于硅、锗单晶的少数载流子寿命测量,除需要有一个测量平面外,对样块 体形无严格要求,可测块状和片状单晶寿命。寿命测量可灵敏地反映单晶体 内重金属杂质污染及缺陷存在的情况,是单晶质量的重要检测项目。
光伏专用电化学ECV 掺杂浓度检测 电化学CV分布仪(CV测试仪)电化学CV剖面分析仪 电化学CV载流子浓度  
光伏专用电化学ECV 掺杂浓度检测 电化学CV分布仪(CV测试仪)电化学CV剖面分析仪 电化学CV载流子浓度
光伏专用电化学ECV 掺杂浓度检测 电化学CV分布仪(CV测试仪)电化学CV剖面分析仪 电化学CV载流子浓度
suns-Voc测试仪  
suns-Voc测试仪
suns-Voc测试仪:利用Suns-Voc进行浆料与烧结技术优化,主要测试IV曲线
Filmetrics光学膜厚测量仪_电池片厚度测试  
Filmetrics光学膜厚测量仪_电池片厚度测试
美国Filmetrics光学膜厚测量仪,利用反射干涉的原理进行无损测量,可测量薄膜厚度及光学常数。测量精度达到埃级的分辩率,测量迅速,操作简单,界面友好,是目前市场上最具性价比的膜厚测量仪设备。设备光谱测量范围从近红外到紫外线,波长范围从200nm到1700nm可选。凡是光滑的,透明或半透明的和所有半导体膜层都可以测量。F20、F30、F40、F50
量子效率测试仪  
量子效率测试仪
量子效率测试仪 此工具专为IQE的自动IQE分析而设计 晶体硅太阳能电池。一些功能是: ·太阳能电池采用可变光照明,均匀地覆盖20 x 20 mm的区域, 或者聚焦点约为。 1 x 3mm²。 ·通过连续移动4平方厘米的照明区域进行全面的EQE和反射率测量。 ·来自单​​色器的280-1600 nm之间的单色光(2个光栅,狭缝宽度和有序滤光片自动改变)。通常使用的带宽为8 nm FWHM,波长精度为1 nm。
四探针 四点探针 四探针测试仪 四探针太阳能硅片电阻率测试仪  
四探针 四点探针 四探针测试仪 四探针太阳能硅片电阻率测试仪
这款紧凑型仪器在所有轴上均可自动化,可在不到4分钟内创建100点的薄层电阻和晶圆电阻率映射。 在点击地图后将探头导航到所需位置后,可以重新测量单点。
接触电阻测试仪  
接触电阻测试仪
接触电阻率等等 这款紧凑型仪器测量成品太阳能电池的接触电阻率,手指线电阻,手指宽度和手指高度,或者测试结构。 通过在所有轴上电动化,可以通过按一个按钮来创建所有这些方法的地图。 用于测量薄扩散层的薄层电阻和晶圆电阻率的四点探头,使得TLM-SCAN +成为一种低成本,快速,高质量的四点探针贴图仪。
体外SPF测试PMMA 板预辐照光源  
体外SPF测试PMMA 板预辐照光源
购置SPF-290AS 的用户必须使用预辐照光源完成相关测试。 1. 将遮光剂涂于 PMMA 板或者其他介质表面。 2. 对 PMMA 板进行预辐照。FDA 规定是4MEDs。COLIPA 的规定更多取决于用于测试的材料。 3. 对经过预辐照的PMMA板进行分析。 可对1,4,或者9 个 PMMA 板提供 4MED(1 MED = 210 J/m² = 0.021 J/cm² = 21mJ/cm² (effective))剂量的预辐照。
Zeta-300 光学轮廓仪 表面轮廓测试系统  
Zeta-300 光学轮廓仪 表面轮廓测试系统
样品本色三维轮廓仪:ZETA-20 具备多模式光学技术的样品本色三维非接触式光学轮廓仪,最顶级的3D成像及测试系统 (为用户量身打造的表面轮廓测量设备,是表面量测领域的最佳选择 ) ##细栅线和主栅线的自动测量 ##单晶和多晶硅绒面测量 ##对裸露的和AR涂层的表面清晰成像 ##提供重要的统计数据,如尺寸,高度分布和体表面积比
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