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量子效率测量系统  
量子效率测量系统
即时性內部量子效率测量。 大幅降低紫外光領域的迷光现象,对高量子效率的样品展現出优异的测量性能。 搭配低迷光对应光谱仪,实现高感度、高稳定性的光谱解析。 激发光源采用光栅搭配滤光镜分光、可任意选择单一波长。(选配)
LED光色电检查系统(半球)  
LED光色电检查系统(半球)
HalfMoon为大塚电子株式会社的登记商标。 积分半球构造: * 半球状的积分球利用镜面的反射虚象,构成对称的全球状的积分球。 * 光源点灯器设置于积分球外部,可搭配散热器散热。
液晶层间隙(Cell gap)测量设备  
液晶层间隙(Cell gap)测量设备
以穿透、半穿透方式测量TFT、STN,以及不同驱动模式的VA、IPS及强诱电性液晶,也支持反射型TFT、STN液晶。视用途,从研发到品管皆有完整对应机种。 除检测液晶层间隙(Cell gap),也可测量液晶面板及液晶材料相位差。椭圆率、方位角等偏光解析,光学轴、色度、穿透、反射光谱等综合性的多功能检测装置。
平面显示器(FPD)大尺寸样品专用测试仪  
平面显示器(FPD)大尺寸样品专用测试仪
从规划设计、开发制造、到现场安装调整及教学支援等,皆秉持一贯的品质自行完成。 面对市场多元化的需求,以优异的技术、丰富的实绩、安心的售后服务,提供最完善的膜厚解析方案。
液晶(LCD)面板、背光模组光电综合检查仪  
液晶(LCD)面板、背光模组光电综合检查仪
可依据所测量的光电特性、温度特性评价LCD面板显示性能。 可在-35℃~90℃的环境下,支援视角80°的360°视角锥测量(Viewing Cone)。
平面显示器(FPD)光电特性检测仪  
平面显示器(FPD)光电特性检测仪
全自动检查FPD模组的显示性能及LCD背光模组的亮灯性能。 检测器除使用本公司所提供之"高感度分光放射辉度计"以外,亦可搭配其它品牌的辉度计。 具备室温下,与0~50℃恒温槽内等两种测量规格。支持各种市售的图形产生器(Pattern generator)。可视测量样品自由编辑参数,如检查项目、检查条件、判定条件等,在编辑完成后,将进行全自动检查。检查结果可输出成报告格式,自动存档。
OLED元件光电特性检测设备  
OLED元件光电特性检测设备
关键性的光谱仪除采用高感度之高感度分光光谱仪(MCPD-7000)以外,亦可搭配新产品"高感度分光放射辉度计"及其相关套件达到更深度的检测能力。 驱动亮灯用的直流电源,最适合作为辉度、色度、LIV测量、发光效率、外部量子效率等OLED元件光学特性之综合性评估。