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少子寿命测量仪 BCT-400测试硅锭
 
   
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少子寿命测量仪 BCT-400测试硅锭

少子寿命测量仪BCT-400测试硅锭BCT-400 BCT-400测量系统不需要做表面钝化就能直接测量单晶和多晶硅(锭或块)的少子寿命. 因为少子寿命作为衡量生长和缺陷含量的的最敏感的技术参数,这个工具直接获得长硅的质量参数。

  • 商品编号:BCT-400
  • 货  号:BCT-400
  • 品  牌:Sinton Instrument
  • 所得积分:400
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  (库存100)

少子寿命测量仪BCT-400

Sinton BCT-400

是基于涡流传感器和红外光致光电导方法直接测量单晶或者多晶硅棒体少子寿命的设备,具有瞬态和准稳态两种测量模式。该设备可探测3mm 深度范围少子寿命,并能输出不同载流子注入水平下的少子寿命值,可实现低电阻率硅单晶少子寿命测量,并能通过软件端光强偏置实现单晶缺陷密度计算。


BCT-400 设备将为光伏客户生产高质量太阳能级 单晶硅片提供有力的质量保证手段。

 


BCT-400测量系统不需要做表面钝化就能直接测量单晶和多晶硅(锭或块)的少子寿命.

因为少子寿命作为衡量生长和缺陷含量的的最敏感的技术参数,这个工具直接获得长硅的质量参数。

作为最易于使用的测量工具--BLS,只需要有直径150mm大小的平面。如果只是测量平面样品的话,请选择BCT-400。

产品简述:

1.用途(高频光电导)

用于硅、锗单晶的少数载流子寿命测量,除需要有一个测量平面外,对样块

体形无严格要求,可测块状和片状单晶寿命。寿命测量可灵敏地反映单晶体

内重金属杂质污染及缺陷存在的情况,是单晶质量的重要检测项目。

2.设备组成

2.1光脉冲发生装置

重复频率>25次/s 脉宽>60μs 光脉冲关断时间<1μs

红外光源波长:1.06~1.09μm(测量硅单晶) 脉冲电流:5A~20A

 

Sinton 少子寿命测量仪,BCT-400测试硅锭,BLS-I测试硅棒,Sinton X-闪光灯头,Sinton X5D闪光灯头,Sinton X闪光灯座。

 

Sinton BCT-400少子寿命测量仪

 

BCT-400测量系统不需要做表面钝化就能直接测量单晶和多晶硅(锭或块)的少子寿命.
是基于涡流传感器和红外光致光电导方法直接测量单晶或者多晶硅棒体少子寿命的设备,具有瞬态和准稳态两种测量模式。该设备可探测3mm 深度范围少子寿命,并能输出不同载流子注入水平下的少子寿命值,可实现低电阻率硅单晶少子寿命测量,并能通过软件端光强偏置实现单晶缺陷密度计算。

 

Sinton BLS-I少子寿命测量仪

BLS-I测量系统用于硅、锗单晶的少数载流子寿命测量,除需要有一个测量平面外,对样块 体形无严格要求,可测块状和片状单晶寿命。寿命测量可灵敏地反映单晶体 内重金属杂质污染及缺陷存在的情况,是单晶质量的重要检测项目。

如测量锗单晶寿命需配置适当波长的光源

测量参数 少子寿命、电阻率、陷阱密度

可测量的少子寿命范围 0.1us-10ms

可测量的电阻率范围 0.5-300ohm.cm

分析模式

准稳态方法少子寿命分析

瞬态方法少子寿命分析

一般方法少子寿命分析

可施加的用于修正陷阱的偏执光范围 0-50suns

可以测量的样品的表面类型

表面为平的硅块样品(BCT-400)

表面不平整的硅块样品(BLS-I)

不平整弧度的直径可达150mm

光源光谱 白光和红外光

感应器的面积 45cm*45cm

可测量深度 3mm

操作简单、灵敏度高

 

BLS-I and BCT-400测量系统对于单晶硅或多晶硅(硅锭或硅块)不需要进行表面钝化就可以进行寿命测量。因为寿命测量是描述生长特征和污染缺陷灵敏度先进的技术,这些工具允许你评估硅生长后的质量。

性能优越

非接触方式量测真正意义上的硅块少子寿命,符合SEMI的PV13标准;相比业界其他少子寿命测试仪BLS-I/BCT系列是性能更优越的少子寿命测试仪。

多型号选择

如果想要设备能够测量多种的表面类型(150mm直径到平滑的)请选BLS-1.如果是仅需要测量平滑表面,请选择BCT-400.

BCT400/BLS-1应用

厂商品质监控常见的测量设备,拥有广泛客户群

•测量寿命在1-5ms(豪秒)范围内的高纯度硅

•测量没有进行特殊表面处理的原生直拉硅

•测量多晶硅块的寿命和俘获浓度

•探测氧化硼缺陷,铁污染,和表面损害

•测试直拉硅,区熔硅,多晶硅或高纯冶金硅的初始原料质量

提问
非会员顾客 说: 17-12-20 09:47
请问说明书有中文的吗?
回答
管理员[Sinton instruments]  回复: 17-12-20 11:11
请联系我们技术支持
提问
非会员顾客 说: 15-11-05 15:22
测试寿命范围? Lifetime measurement range • 100 ns to greater than 10 ms
回答
管理员[Sinton instruments]  回复: 15-11-10 20:50
Lifetime measurement range • 100 ns to greater than 10 ms
提问
非会员顾客 说: 14-07-15 10:51
bls-i,能测单晶P型吗
回答
管理员[dora]  回复: 14-07-17 12:43
能啊
提问
非会员顾客 说: 14-07-11 14:47
BCT-400和BLS-1有什么区别
回答
管理员[dora]  回复: 14-07-14 09:29
BCT-400一般用来测硅锭,只能测平面;BLS一般用来测硅棒,测量范围:测直径150mm~平面。
提问
非会员顾客 说: 14-06-12 14:03
我公司最近想购买3台BCT-400,但我对这台仪器不是很了解。请问BCT-400少子寿命仪有中文版的英文说明书吗?另外,BCT-400与WT-1000B有什么对应关系吗?两台仪器哪个的测试数据更真实些?
回答
管理员[dora]  回复: 14-06-16 11:47
请直接打电话13681980050,联系Mike,他会给您满意的回复。

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